VI-direct微干涉仪，直接将平面度测试的范围扩展到最小直径的领域。Fizeau型干涉仪能够测量直径约为0.8mm至3.6mm的光学零件的表面平整度。成本效益高的微干涉仪VI-direct可用于测试光学元件，如微棱镜、激光晶体、光纤终端等。
VI-direct微干涉仪
微干涉仪VI-direct直接将平面度测试的范围扩展到最小直径的领域。Fizeau型干涉仪能够测量直径约为0.8 mm至3.6 mm的光学零件的表面平整度。成本效益高的微干涉仪VI-direct可用于测试光学元件，如微棱镜、激光晶体、光纤终端等。
特征：
1、通过USB端口直接连接到PC，不需要帧抓取器
2、高分辨率数码相机（1600x1200像素）
3、因暴露时间短而对振动不敏感
4、广泛的光学和机械配件
5、可用于垂直、水平或倾斜方向。这使得仪器在客户特定应用中的用途极其广泛。
6、由于其紧凑的设计，干涉仪非常适合集成在特定应用的工作站中。
7、使用Intomatik-S进行视觉或可选软件支持的评估
8、光源：光纤耦合、稳定或非稳定He-Ne激光器（λ=632.8 nm）或稳定激光二极管（λ=635 nm）
技术参数：
Model | Micro-Interferometer VI-direct |
Art. No. | 244 318 |
Type of interferometer | Fizeau type |
Camera resolution | 1600x1200 Pixel |
Laser | Fiber coupled He-Ne-laser with 632.8 nm wavelength |
test field diameter | 0.8 to 3.6 mm |
Measurement uncertainty with visual evaluation | λ/10 |
Measurement uncertainty with PC-based evaluation | λ/20 |
VI-direct微干涉仪
微干涉仪VI-direct直接将平面度测试的范围扩展到最小直径的领域。Fizeau型干涉仪能够测量直径约为0.8 mm至3.6 mm的光学零件的表面平整度。成本效益高的微干涉仪VI-direct可用于测试光学元件，如微棱镜、激光晶体、光纤终端等。
特征：
1、通过USB端口直接连接到PC，不需要帧抓取器
2、高分辨率数码相机（1600x1200像素）
3、因暴露时间短而对振动不敏感
4、广泛的光学和机械配件
5、可用于垂直、水平或倾斜方向。这使得仪器在客户特定应用中的用途极其广泛。
6、由于其紧凑的设计，干涉仪非常适合集成在特定应用的工作站中。
7、使用Intomatik-S进行视觉或可选软件支持的评估
8、光源：光纤耦合、稳定或非稳定He-Ne激光器（λ=632.8 nm）或稳定激光二极管（λ=635 nm）
技术参数：
Model | Micro-Interferometer VI-direct |
Art. No. | 244 318 |
Type of interferometer | Fizeau type |
Camera resolution | 1600x1200 Pixel |
Laser | Fiber coupled He-Ne-laser with 632.8 nm wavelength |
test field diameter | 0.8 to 3.6 mm |
Measurement uncertainty with visual evaluation | λ/10 |
Measurement uncertainty with PC-based evaluation | λ/20 |
